WSJ 观点：黄仁勋事件凸显中国对美国芯片的图谋与美国出口管制漏洞
“The Huang affair highlights China’s designs on U.S. chips and holes in U.S. export controls. Closing the holes may be a rare but useful area for bi...
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《华尔街日报》观点文章指出，黄仁勋事件凸显了中国对美国芯片的图谋以及美国出口管制存在的漏洞。文章认为，填补这些漏洞可能成为两党罕见而有价值的合作领域。
来源：@Lingling_Wei · x.com