Herman Jin称联发科pin/bump分配问题或致功能良率近零
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Herman Jin称联发科pin/bump分配问题或致功能良率近零
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AI 综述
Herman Jin 转发并评论一则传闻,称听到消息时很震惊。他分析称,如果某芯片的功能良率实际接近零,唯一现实的解释是联发科(MTK)的 pin/bump 分配问题,即 MTK 把设计搞偏了。 他称这类问题不会在台积电(TSMC)的晶圆级被检测出来。以上为其个人分析,传闻本身尚未得到证实。
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最新进展11月1日 07:12
Herman Jin:若功能良率几乎为零,唯一合理解释是联发科的 pin/bump 分配问题报道时间线
沿着报道,了解事件的不同侧面。
11月1日
- @ShanghaoJinHerman Jin:若功能良率几乎为零,唯一合理解释是联发科的 pin/bump 分配问题
Herman Jin 转发并评论一则传闻,称自己听到消息时很震惊。他分析指出,如果功能良率实际接近零,唯一现实的解释是 MTK(联发科)的 pin/bump 分配问题,即 MTK 把设计搞偏了,而这类问题不会在 TSMC(台积电)晶圆级被检测出来。
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